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元器件ITVI曲线测试

概述

  • 测试对象: 客户是日本一家生产电子元器件的厂家,使用自动设备测试元器件的VT / IT特性。每次测试10个元器件。需要记录完整的VT / IT曲线。之前使用LR记录仪来实现,每年购买笔和纸都是一笔很大的开销。

操作要点:

  • 横河的示波记录仪DL850E端的接线:由于自动测试仪输出信号非常微小,所以使用701265模块来进行测试。IT信号转换成0~100mv电压输入,VT信号转换成0~10V输入。
  • 由于客户习惯查看打印的数据,也希望能把数据打印出来。DL850E可提供多种图片保存方式,比如打印用的灰度和反转色。

产品优势:

  • 示波记录仪DL850E完全可以取代LR记录仪,且由于采样率较高,可测得更为真实详细的波形数据。
  • DL850E模块丰富,701265模块可测量非常微小信号,且可通过输入端滤波抑制高频噪声干扰。
  • DL850E图片多种格式,方便客户打印保存。
CN APP IT DL850E Component

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示波记录仪 DL850E/DL850EV

横河测试测量实时测量与谐波分析大量信号,加快开发与故障查找速度。波形记录仪DL850E可以捕捉与分析瞬态事件,显示长达200天的趋势波形。通过插拔模块,可以灵活组合电信号与物理信号(传感器信号,如CAN、LIN和串行总线)的测量,还能实现实时功率分析运算的触发。

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