TLS模块 AQ2200-136 （已停产）

特点

AQ2200-136 TLS模块是一个宽频带可变波长光源选件，专为AQ2200多应用测试系统设计。

• 波长范围：
  • 1440~1640nm (完全覆盖1550nm波段CWDM)
• 波长精度：
  • ±100pm
• 输出电平：
  • +7dBm或以上(最大输出波长)；
  • –8dBm或以上，适用所有波长范围
• 波长扫描速度：
  • 50nm/秒
• 通过将AQ2200-136与Yokogawa光通信测量仪器以及用于AQ2200多应用测试系统的各种模块选件组合在一起，可创建多种测量系统。

测量应用示例

与光谱分析仪同步的扫描测量(标准功能)

• AQ2200-136可执行同步扫描测量* 与Yokogawa AQ6317B/C、AQ6370或AQ6370B光谱分析仪一起使用时。这样的组合可执行高动态范围测量，具有带阻滤波器(BEF)等功能。
  
  同步扫描测量：此功能执行波长扫描测量，同时将光谱分析仪测量的波长与可变波长光源输出的波长同步，无需使用外部PC控制器。
• 测量时间：约22秒(典型值；在AQ6317B/C电平量程设置为AUTO、跨度设置为20nm且测量点个数设置为1001的条件下获得)

扫描测量功能(标准功能)

• 可将AQ2200-136与AQ2200-211传感器模块或AQ2200-231光传感器头*组合在一起，以执行高速、宽频带波长扫描测量，无需使用PC控制器。
  
  * 必须使用AQ2200-201接口模块才能使用AQ2200-231。
• AQ2200-136可用于测量各种光学设备和部件。应用示例包括：
  
  
  • 光学滤波器的插入损耗和波长依赖性测量
  • 光耦合器和光衰减器的波长依赖性测量
  • CWDM mux/demux的通过中心波长和通带平坦度测量
• 高分辨率测量，20,000个数据点(最多)，1pm波长分辨率(最小)
• 测量时间：
  • 电平量程设置为Hold时约11秒
    
    (典型值；将AQ2200-136和AQ2211设置为1440至1640nm波长范围、0.1nm步进扫描宽度和2000个数据点时获得)
  • 电平量程设置为Auto2时约13秒
    
    (典型值；将AQ2200-136和AQ2211设置为1440至1640nm波长范围、0.1nm步进扫描宽度和2000个数据点时获得)

规格

参数		产品规格	备注
波长变化范围1440~1640nm
波长分辨率		1pm
绝对波长精度		≤±100pm	1
相对波长精度		≤±50pm	1
波长稳定性		±5pm/h	2, 4, 5
谱线宽度	NARROW(窄)	≤1MHz	2, 4, 8
	WIDE(宽)	≥50MHz	1, 2, 4, 8
光输出	最大输出波长	≥±7dBm	1, 10
	1520~1610nm	≥±5dBm
	总波长范围	≥-8dBm
光输出稳定性	5分钟	≤±0.01dB	1, 3, 5, 6, 10
	1小时	≤±0.05dB
	24小时	≤±0.1dB
光输出重复性		≤±0.04dB	1, 3, 5, 6, 10
监视输出	最大光输出	≤±5dBm	9
	最小光输出	≥-25dBm
支持的光纤		SM (ITU-T G.652)
支持的光接口		FC/APC	7

激光安全信息

• 此激光光源被归为IEC60825-1:2001 Class 1 M类产品。
• 此产品符合21CFR1040.10标准，但因遵循2001年5月27发布的第50号激光公告而带来的豁免除外。
• 使用某些光学测量设备(双目放大镜、放大镜、望远镜等等)在100mm或更近的距离内查看激光输出可能导致眼睛受伤。

除非特别说明，否则这些规范代表值是在校准后至少一小时OPTON后，在基准工作条件下*，使用2m SMF输出点测得的。

*基准工作条件：环境温度为23±2ºC，每10分钟温度变化为1ºC，每小时温度变化为3ºC，湿度为50±5%



1在最大光输出时

2波长：1590nm

3宽线宽

4窄线宽

5常温

6波长：1460~1620nm

7SEIKOH GIKEN APC或符合要求的产品(步进类型)

8在最小光输出时

9使用MONITOR接口

10使用OUTPUT接口