利用光学低相干反射测量技术可视化微弱反射 （OLCR）
随着光器件日益集成化和复杂化，即使是最微小的反射或对准偏差也可能影响其性能和可靠性。准确测量这些参数至关重要，但传统反射仪常引入虚假噪声，使分析变得复杂。
高分辨率反射仪可精确检测光连接器和模块内部反射的强度与位置，能够发现标准损耗测量可能遗漏的微裂纹，有助于避免不可预测且可能造成严重后果的失效问题。
光器件中组件位置与反射分析
AQ7420 和 AQ7421 具备高空间分辨率、无干扰运行及清晰波形的特点，可精准识别光器件内部组件的位置，并测量其边缘产生的反射光。
- Spatial resolution: 40 μm
- Spurious noise: −100 dB avoids false detections
- Simultaneous measurement of multiple reflection and insertion loss
- Spatial resolution: 40 μm
- Spurious noise: −100 dB avoids false detections
- Up to 8 m with optional expander unit
- Simultaneous measurement of multiple reflection and insertion loss
- Unit for AQ7420/AQ7421
- Unit for measuring Insertion Loss
- Accuracy ：±0.02 dB
- Power Range ：0~10 dB
宣传手册
返回顶部
微信扫一扫
获得更多专业服务
获得更多专业服务