高速杂散光抑制功能

高速杂散光抑制功能
   新的高速杂散光抑制功能！
(SWITCH扫描功能)
更快的杂散光抑制测量！
新增高速杂散光*抑制功能(SWITCH扫描功能)，测量速度更快。与常规型号使用的CHOP功能相比，杂散光抑制功能快2.4倍左右。
测量条件：SPAN：0.5nm，RES：10pm，SENS：HIGH1/SW，SAMPLE：AUTO

测量速度比CHOP扫描功能快2.4倍左右。

* 杂散光来自光学仪器内部光学器件及其支架表面的反射和散射。这不是正常的折射和反射所产生的，因此可能不利于成像。