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高速杂散光抑制功能

高速杂散光抑制功能
   
新的高速杂散光抑制功能!
(SWITCH扫描功能)
更快的杂散光抑制测量!
新增高速杂散光*抑制功能(SWITCH扫描功能),测量速度更快。与常规型号使用的CHOP功能相比,杂散光抑制功能快2.4倍左右。
测量条件:SPAN:0.5nm,RES:10pm,SENS:HIGH1/SW,SAMPLE:AUTO

测量速度比CHOP扫描功能快2.4倍左右。

* 杂散光来自光学仪器内部光学器件及其支架表面的反射和散射。这不是正常的折射和反射所产生的,因此可能不利于成像。

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