横河 AQ6361 光谱分析仪与 AQ7420 高分辨率反射仪双双荣获 Lightwave 创新奖

横河测试测量（Yokogawa Test & Measurement）全球精密光学与电子测试解决方案的领导者，近日宣布，其两款最新仪器——AQ6361光谱分析仪与AQ7420高分辨率反射仪，荣获2026年度Lightwave创新奖。

该奖项旨在表彰光通信、光子学及测试设备领域兼具创新性、性能优势、实用价值与行业影响力的卓越产品。今年再次斩获这一殊荣，彰显了横河在推动光学测量技术进步方面的领先地位，其解决方案更是覆盖了从研发到生产的各类应用场景。

AQ6361 光谱分析仪

横河AQ6361之所以备受青睐，是因为它具备高分辨率光学分析功能、高速测量能力以及产线适配型架构设计。

该仪器专为大批量制造场景开发，可以让用户在不牺牲测量精度的前提下显著提升测量速度进而提高产能，是激光器、光模块、光放大器及其他关键光电器件测试的理想选择。

其核心优势包括：

• 高分辨率与宽波长覆盖，专为精细光学特性打造
• 高速测量能力，可有效缩短测试周期
• 紧凑坚固的机身，适配产线环境

横河通信事业部负责人小岛学表示：“AQ6361为制造商提供了当今严苛光学生产环境所需的性能与效率。

该奖项体现了我们对实用型创新的坚持，致力于帮助客户提升高性能光器件的产能与效率，并为不断扩张的AI数据中心市场提供有力支撑。”

AQ7420 高分辨率反射仪

AQ7420高分辨率反射仪以其业界领先的空间分辨率和低噪声水平而著称。

该仪器基于光学低相干反射测量技术（OLCR），可精准识别影响光器件性能与可靠性的反射点、微缺陷及界面异常。

其核心优势包括： 

• 超精细空间分辨率，可实现精细的反射特性分析
• 卓越的噪声抑制能力，可确保测量数据更清晰、准确
• 支持反射与插入损耗同时测量，提升分析效率

横河测试测量光测量事业本部长小岛先生补充指出：“AQ7420 能帮助工程师获取其他工具无法捕捉的细节。

而且在光器件与连接器日益复杂的背景下，精准定位细微反射对确保产品质量和设计合理性至关重要。”

关于横河测试测量

横河测试测量致力于为用户提供创新型仪器及解决方案，助力工程师完成高性能光学、电气与电子系统的测试、验证及生产。依托长期积累的精度与可靠性优势，其产品广泛服务于全球先进通信、工业自动化及科学研究领域。