横河发布AQ6375E/AQ6376E光谱分析仪的增强功能及其新规格

Yokogawa Test & Measurement Corporation

2025年10月1日

非常感谢各位对横河产品销售活动的关注。
现在发布AQ6375E/AQ6376E光谱分析仪的增强功能及其新规格。

1. 概览

高级脉冲光测量（APLM）模式最初于 2025 年 1 月随 AQ6377E 型 5 微米波段光谱分析仪推出，现也已应用于 AQ6375E（2 微米）和 AQ6376E（3 微米）。
此外，AQ6375E和AQ6376E现在将“测量动态范围”列为明确的技术规格，这为它们相较于其他产品提供了清晰的竞争优势。此项更新与AQ6377E所采用的方案保持一致。

2. 主要变化

• 新增“高级脉冲光测量（APLM）模式”

高级脉冲光测量(APLM)模式的加入极大的增强了脉冲光测量能力。这一改进最大限度地减少了红外辐射的影响，并能够测量以前难以实现的低重复率脉冲信号测试。
已有AQ6375E 或 AQ6376E 的用户可以通过更新到最新固件（版本 R01.10）来使用此功能，该固件将在产品网页上提供下载链接。

• 指定测量动态范围

将AQ6375E和AQ6376E广受认可的宽测量动态范围正式列为明确规格，凸显了其相较于竞品的优势。

2. 主要规格

→ 3-1. AQ6375E

^*1 根据机型的不同而不同
^*2 典型值

→ 3-2. AQ6376E

^*典型值