元器件ITVI曲线测试

概述

• 测试对象： 客户是日本一家生产电子元器件的厂家，使用自动设备测试元器件的VT / IT特性。每次测试10个元器件。需要记录完整的VT / IT曲线。之前使用LR记录仪来实现，每年购买笔和纸都是一笔很大的开销。

操作要点：

• 横河的示波记录仪DL850E端的接线：由于自动测试仪输出信号非常微小，所以使用701265模块来进行测试。IT信号转换成0~100mv电压输入，VT信号转换成0~10V输入。
• 由于客户习惯查看打印的数据，也希望能把数据打印出来。DL850E可提供多种图片保存方式，比如打印用的灰度和反转色。

产品优势：

• 示波记录仪DL850E完全可以取代LR记录仪，且由于采样率较高，可测得更为真实详细的波形数据。
• DL850E模块丰富，701265模块可测量非常微小信号，且可通过输入端滤波抑制高频噪声干扰。
• DL850E图片多种格式，方便客户打印保存。