逆变升压电路中的电抗器损耗测量－PX8000

电抗器由电磁芯和线圈组成，位置在变频器之前，作用是过滤噪声和提高电压电平。电气工程师要关注的重点是如何降低整个变频器系统的功率损耗，同时电抗器性能也是他们的兴趣所在。
对此可以有两种评价方法，一种是测量电抗器的直接损耗，另一种是测量铁损。因为PX8000可以同时容纳高频测量和低功率因数条件，所以这两种评价方法都可以支持。

PX8000适用于此测试的优势：

低功率因数测量
低功率因数测量

PX8000具备更高采样率和超宽带宽，特别适用于测试变压器、电抗器等拥有低功率因数的设备。精确测量此类设备高频下的功率损耗非常重要。

去延迟功能

为分析低功率因数设备的功率损耗，应尽量减少电压与电流间因传感器和输入特性所产生的时差。PX8000可以提供精准的去延迟调整功能，对该时差进行补偿。

高频下的磁芯损耗测量

通过PX8000的用户自定义功能，可以对系统性能进行瞬态分析，而磁芯损耗分析便是其中一个应用案例。
在这个案例中，利用一次线圈的电流和二次线圈的电压(使用爱泼斯坦设备的读数)计算磁芯损耗，利用输入频率、横截面积等参数计算磁通密度(B)和磁场(H)。所有数值PX8000都可以直接显示。