高速温度测试

• 测试内容：某大型液晶面板生产厂商，在其面板的Module设计环节，需对产品进行快速的温升测试，并将生成的原始数据作为报告提供给其用户。以前一直在使用横河的LR8100E系列有纸记录仪，但随着测试项目的增加，测试人员希望对该示波记录仪进行产品升级。客户最终选择DL850E进行相关测试。
• 测试要求：
  1. 整个温升过程在8s左右，之后温度会迅速下降。要求采样间隔在10-20ms或以上，以便能够记录到相对准确的温度最大值。
  2. 采用T型热电偶，温度范围为室温至200度以内。
  3. 能够实时打印出平滑的温度曲线，也可保存为电子文档以便在需要时打印。
  4. 通道数量在8个左右。
  5. 能够显示和打印出最高点温度及升至最高时所需的时间。

波形记录仪DL850E产品优势：

• 最大扩至2GB高速内存，多种外部存储器，可选配打印机，可实时显示和保存温度曲线，可根据需要实时打印。
• 温度模块可实现500S/s采样率（即2ms采样间隔），分辨率0.1^。C专门应对高速温度测试。
• 可扩充至16CH同时进行温度采集，或可选配其他模块同时进行多种类型测试。