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中国 CN  

高速温度测试

功率分析DL850E概述
  • 测试内容:某大型液晶面板生产厂商,在其面板的Module设计环节,需对产品进行快速的温升测试,并将生成的原始数据作为报告提供给其用户。以前一直在使用横河的LR8100E系列有纸记录仪,但随着测试项目的增加,测试人员希望对该示波记录仪进行产品升级。客户最终选择DL850E进行相关测试。
  • 测试要求:
    1. 整个温升过程在8s左右,之后温度会迅速下降。要求采样间隔在10-20ms或以上,以便能够记录到相对准确的温度最大值。
    2. 采用T型热电偶,温度范围为室温至200度以内。
    3. 能够实时打印出平滑的温度曲线,也可保存为电子文档以便在需要时打印。
    4. 通道数量在8个左右。
    5. 能够显示和打印出最高点温度及升至最高时所需的时间。

波形记录仪DL850E产品优势:

  • 最大扩至2GB高速内存,多种外部存储器,可选配打印机,可实时显示和保存温度曲线,可根据需要实时打印。
  • 温度模块可实现500S/s采样率(即2ms采样间隔),分辨率0.1C专门应对高速温度测试。
  • 可扩充至16CH同时进行温度采集,或可选配其他模块同时进行多种类型测试。
CN APP High Temperature Test DL850

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