The High-resolution reflectometer accurately detects the quantity and location of reflections within optical connectors and modules. It reveals microcracks that standard loss measurements might miss, helping to avoid unpredictable and potentially detrimental failures.
Component Position and Reflection Analysis in Optical Devices
With high spatial resolution, spurious-free operation, and sharp waveforms, the AQ7420 and AQ7421 precisely identify component positions inside optical devices and measure the reflected light generated at their edges.
- Spatial resolution: 40 μm
- Spurious noise: −100 dB avoids false detections
- Simultaneous measurement of multiple reflection and insertion loss
- Up to 8 m with optional expander unit
- Spatial resolution: 40 μm
- Spurious noise: −100 dB avoids false detections
- Simultaneous measurement of multiple reflection and insertion loss
Optische Kommunikation & Netze
Da Yokogawa immer auf der Suche nach Möglichkeiten ist, um sein Portfolio von Test- und Messlösungen zu erweitern, befasst sich das Unternehmen seit längerem auch mit optischen Kommunikationsnetzen.
Photonik Analyse & Sensorik
Yokogawa bietet verschiedene Geräte und Lösungen mit höchster Leistungsfähigkeit an, wie das AQ6370E, AQ6380 und die AQ2200 Serie, die auch eine Überwachung von Umweltbedingungen (Environmental Sensing) erlauben.
Editorial
Goodbye & Welcome – Seite 3
Hintergrund
Die Zukunft mit KI und
benutzerfreundlichen Tools gestalten
GA10 – Seite 4
Das etwas andere DAQ mit
High-Speed Erfassung
SL2000 – Seite 6
Mikrorisse sicher erkennen
mit 40 μm Auflösung
AQ7420 – Seite 8
Charakterisierung moderner Laser für die
Entwicklung von Quantencomputern
AQ6370E Case Study – Seite 10
News
110 Jahre Yokogawa
Jubiläumsaktion – Seite 11
Kataloge & Broschüren
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