Hochauflösendes Reflektometer AQ7420

Yokogawa Test & Measurement Corporation

Amersfoort, in den Niederlanden 15. Januar 2025

 

Yokogawa Test & Measurement veröffentlicht hochauflösendes Reflektometer AQ7420

 

Die Yokogawa Test & Measurement Corporation gibt die Markteinführung ihres hochauflösenden Reflektometers AQ7420 bekannt. Das AQ7420 nutzt die OLCR-Technologie (Optical Low Coherence Reflectometry) und ist ideal für die Analyse der internen Struktur von optischen Modulen sowie die Visualisierung von Mikrorissen in optischen Steckern geeignet. Der Messbereich von 100mm ist dabei optimiert auf Stecker und aktive sowie passive optische Komponenten. Mit einer beeindruckenden räumlichen Auflösung von 40 µm und einer außergewöhnlichen Empfindlichkeit bei der Messung der Reflexion bis zu -100 dB, bleibt es frei von optischen Artefakten. Durch die optionale Sensorkopfeinheit ermöglicht das AQ7420 die gleichzeitige Messung von Reflexion und Einfügedämpfung, wodurch es sich als hocheffiziente und kostengünstige Lösung für den Bereich der optischen Reflexionsmessung auszeichnet.

 

 

Hochauflösendes Reflektometer AQ7420

 

Hintergrund der Entwicklung

Yokogawa Test & Measurement setzt kontinuierlich auf Kundenfeedback und Branchentrends, um innovative Lösungen im Einklang mit den Marktanforderungen zu entwickeln. Im Bereich der Silizium-Photonik und der Herstellung von Glasfaser-Steckverbindern wurde das Unternehmen auf mehrere neuen Anforderungen aufmerksam, die mit den bestehenden Marktlösungen nicht erfüllt werden konnten. Dazu gehörten: die noch stärkere Reduzierung von optischen Artefakten, die gleichzeitige Messung von Reflexion und Einfügedämpfung, eine verbesserte Stabilität der gemessenen Wellenformen und schnellere Messzeiten. Ziel war es, eine neue Lösung zu entwickeln, die diesen Anforderungen gerecht wird.

Das Ergebnis ist das neue hochauflösende Reflektometer AQ7420, dass in zwei Versionen erhältlich ist: mit einer Wellenlänge (1310 nm) und mit zwei Wellenlängen (1310 und 1550 nm). Außerdem gibt es eine Steuersoftware für Windows 11, einen optionalen Sensorkopf speziell für die Verlustmessung, verschiedene Anschluss-Fasern (kompatibel mit einer Vielzahl von Steckertypen) und einer Auswahl an Fasern für das Shiften der Startposition des 100mm Messbereiches innerhalb des Messobjektes.

 

Die wichtigsten Merkmale

Eine der herausragendsten Neuerungen des AQ7420 ist die signifikante Reduzierung von Artefakten. Bei herkömmlichen, auf der OLCR/OFDR-Technologie basierenden Geräten können oft (je nach verwendetem Gerät) optische Artefakte (Geisterreflexionen) in Bereichen auftreten, in denen es keine tatsächliche Reflexion gibt, was zu Fehleinschätzungen führen kann. In solchen Situationen ist die korrekte Analyse der Wellenform stark von der Erfahrung  der Anwender abhängig. Im Gegensatz dazu verfügt das neue AQ7420 über eine Technologie, die optische Artefakte erheblich reduziert, wodurch die Analyse und Bewertung stark vereinfacht wird.

Hervorzuheben ist außerdem die Möglichkeit, Reflexion und Einfügedämpfung gleichzeitig zu messen. Herkömmliche OLCR/OFDR-Instrumente sind oft nicht in der Lage, die Stärke der Reflexion genau zu bestimmen, da die Messgenauigkeit des Reflexionspegels zu gering ist. Das hochauflösende Reflektometer AQ7420 begegnet diesem Problem, indem es Messungen mit einer Genauigkeit von ±3 dB ermöglicht. Durch die Nutzung des optischen Sensorkopfes kann der Benutzer außerdem gleichzeitig die Einfügedämpfung mit einer Genauigkeit von ±0,02 dB messen.

Ein weiteres wichtiges Merkmal ist die kürzere Messzeit. Im Vergleich zur vorherigen Produktgeneration (AQ7410) ist die Messzeit des neuen hochauflösenden Reflektometers AQ7420 um etwa 50 % kürzer, d. h. etwa 6 Sekunden im Vergleich zu 12 Sekunden vorher.

 

Zusätzliche technische Information

Das neue hochauflösende Reflektometer AQ7420 erkennt präzise die Anzahl und Position von Reflexionen in optischen Steckern und Modulen. Dank seiner herausragenden Eigenschaften und Leistungsfähigkeit vermag das Reflektometer AQ7420 Mikrorisse zu erkennen, die bei herkömmlichen OTDR- und Verlustmessungen oft unbeachtet bleiben. Diese feinen Defekte können zu unvorhersehbaren und potenziell schädlichen Ausfällen führen. So trägt das Gerät entscheidend dazu bei, solche Risiken frühzeitig zu identifizieren und potenziellen Schäden vorzubeugen.

Im Rahmen allgemeiner Inspektionsprozesse von optischen Steckverbindern befassen sich Forscher und Ingenieure in der Regel mit der Messung mehrerer Reflexionen, der Einfügedämpfung und der Erkennung von Bruchstellen. Da das AQ7420 über einen optionalen optischen Sensorkopf verfügt, können diese Messungen auf ein Mal durchgeführt werden – während gleichzeitig eine Rissinspektion vorgenommen wird.

Das Gerät erreicht bei Reflexionsmessungen eine Empfindlichkeit von -100 dB, was die für die Erkennung von Mikrorissen erforderlichen -85 dB deutlich unterschreitet. Die Genauigkeit der Reflexionsmessung beträgt im Standard-Bereich ±3 dB (-14,7 bis -85 dB), während Sie im hochempfindlichen Bereich mit ±3 dB (-50 bis -90 dB) und ±5 dB (-90 bis -100 dB) angegeben wird. Mit dem optionalen Sensorkopf kann die Einfügedämpfung im Bereich 0-10 dB mit einer Unsicherheit von ±0,02 dB gemessen werden.

Das AQ7420 kann Messungen entweder bei 1310 nm, oder optional bei 1310 und 1550 nm durchführen, was zu einer schnelleren Inspektion von optischen Steckern beiträgt.

Das AQ7420 verfügt über eine Einrichtung zu Kontrolle der Polarisation, wodurch die Polarisationsabhängigkeit eliminiert wird. Dies ermöglicht die stabile Messung von stark polarisationsabhängigen Objekten.

Das hochauflösende Reflektometer AQ7420 von Yokogawa ist ein kompaktes Gerät mit den Abmessungen 430 (B) x 132 (H) x 350 (T) mm (ohne Schutzhülle und Griffe). Es wiegt etwa 8 kg.

 

Wichtige Zielmärkte

  • Unternehmen und Einrichtungen, die auf dem Gebiet der Silizium-Photonik forschen
  • Hersteller von optischen Komponenten und Steckverbinder
  • Alle Unternehmen, die sich mit der Analyse defekter optischer Komponenten befassen

 

Anwendungen

  • Erkennung der Position und Stärke von Reflexionen in optischen Steckern und optischen Modulen mit hoher Genauigkeit
  • Visualisierung von Mikrorissen in optischen Steckverbindern, die mit Dämpfungsmessungen nicht sichtbar sind

 

Weitere Informationen zum AQ7420 finden Sie hier.

 

Über Yokogawa Test & Measurement

Seit 100 Jahren entwickelt Yokogawa Messlösungen und findet kontinuierlich neue Wege, um Forschungs- und Entwicklungsteams die Werkzeuge zur Verfügung zu stellen, die sie benötigen, um die besten Erkenntnisse aus ihren Messstrategien zu gewinnen. Das Unternehmen hat in seiner Geschichte die genaue Leistungsmessung vorangetrieben und ist Marktführer bei digitalen Leistungsmessgeräten und optischen Spektrumanalysatoren.
Yokogawa-Messinstrumente sind weltweit für ihre hohe Präzision, Qualität, Langlebigkeit und den Service-Support bekannt.
Meet the precision makers at: tmi.yokogawa.com/de/

 

Über Yokogawa

Yokogawa bietet fortschrittliche Lösungen in den Bereichen Messung, Steuerung und Information für Kunden in einer Vielzahl von Industrien, darunter Energie, Chemie, Materialien, Pharmazie und Lebensmittel. Yokogawa befasst sich mit Kundenfragen zur Optimierung von Produktion, Anlagen und Lieferketten durch den effektiven Einsatz digitaler Technologien, um den Übergang zu autonomen Betriebsabläufen zu ermöglichen.
Gegründet in Tokio im Jahr 1915, arbeitet Yokogawa mit über 17.000 Mitarbeitern in einem globalen Netzwerk von 126 Unternehmen in 60 Ländern daran, eine nachhaltige Gesellschaft zu schaffen.
Weitere Informationen finden Sie unter: www.yokogawa.com.

Die Namen von Unternehmen, Organisationen, Produkten, Dienstleistungen und Logos, die hierin erwähnt werden, sind entweder eingetragene Marken oder Marken der Yokogawa Test & Measurement Corporation oder ihrer jeweiligen Inhaber.

Related Industries

Related Products & Solutions

AQ7420 High-Resolution Reflectometer

Accurately detects the quantity and location of reflections within connectors and modules and reveals microcracks that standard loss measurements can miss.

  • Measurement distance: 100 mm (approx. 4 inches)
  • Spatial resolution: 40 μm
  • Spurious noise: −100 dB avoids false (ghost) effects
  • Simultaneous measurement of multiple reflection and insertion loss

High-Resolution Reflectometer

The High-resolution reflectometer accurately detects the quantity and location of reflections within optical connectors and modules.
It reveals microcracks that standard loss measurements might miss, helping to avoid unpredictable and potentially detrimental failures.

Precision Making

Oben