European Conference on Optical Communication (ECOC) 2026
Yokogawa at ECOC 2026 – See You in Málaga!
Join Yokogawa at ECOC 2026, Europe’s leading exhibition for fibre optic communication. The event takes place 21–23 September 2026 at FYCMA, Málaga, Spain. Visit us at Stand 2157 to discover the latest optical test and measurement solutions for high-speed, high-performance networks.
Meet our experts, see live demonstrations, and explore how Yokogawa technologies help engineers design and validate the next generation of fibre optic systems. Whether you work in R&D, manufacturing, or network installation, our instruments deliver the precision and reliability needed to drive innovation forward.
Stand 2157 , do not miss it!
Related Products & Solutions
AQ2300 Series Test Platform
This lineup includes 3-slot and 9-slot frames equipped with trigger synchronization and remote-control functions.
AQ6150 Serie - Optische Wellenlängen-Messgeräte
Die optischen Wellenlängen-Messgeräte der Serie AQ6150 sind ideale Instrumente für eine genaue Messung der optischen Wellenlänge von optischen Bauteilen und Systemen, die in Telekommunikationsanwendungen von 1270 bis 1650 nm eingesetzt werden (einschließlich C&L Band).
AQ6361 Telecom Production 1200-1700 nm
- 0.03 nm resolution
- ±20 pm accuracy
- 55 dB dynamic range
- -80 dBm level sensitivity
- Highest sweep speed for manufacturing
AQ6370E Telekom-OSA 600 - 1700 nm
Der optische Spektrumanalysator AQ6370E deckt die gängigen Wellenlängen für die Telekommunikation ab. Er ist vielseitig einsetzbar, da er aufgrund des Freistrahleingangs für Single-Mode und Multi-Mode Anwendungen geeignet ist.
AQ6380 Hochleistungs-OSA 1200 - 1650 nm
Der optische Spektrumanalysator AQ6380 bietet mit bis zu 5 pm Auflösung und einer Close-In Dynamik von 65dB eine unerreichte optische Performance. Damit genügt er höchsten Anforderungen, vor allem im Bereich der Telekommunikation.
AQ7290 High-End OTDR
- 6 models in AQ7290 series
- Up to 47 dB dynamic range
- Wavelengths:1310 / 1550 / 1625 / 1650 nm
AQ7420 (100 mm Model)
- Spatial resolution: 40 μm
- Spurious noise: −100 dB avoids false detections
- Simultaneous measurement of multiple reflection and insertion loss
