AQ6373E VIS - OSA: 350 - 1200 nm

Der AQ6373E ist der Optische Spektrumanalysator für den sichtbaren Wellenlängenbereich

Er ermöglicht die schnelle und präzise Analyse kürzerer Wellenlängen von 350 bis 1200 nm.

Erhältlich in drei Varianten, um den Anforderungen verschiedener Anwendungen gerecht zu werden, beschleunigt dieses vielseitige OSA die Entwicklung und Herstellung von Lasern mit kurzen Wellenlängen, passiven Bauelementen und LEDs sowie Geräten, die diese Komponenten für die Märkte der Biomedizin, Materialverarbeitung, Konsumgüter und Telekommunikation verwenden.

AQ6373E Optischer Spektrumanalysator für den sichtbaren Wellenlängenbereich

  • Drei verfügbare Modelle für Anwendungen im kurzen Wellenlängenbereich: Standard, High Resolution und Limited
  • Wellenlängenbereich: 350 - 1200 nm (alle Versionen)
  • Wellenlängenauflösung
    • Standard: 0.02 nm - 10 nm
    • High Resolution: 0.01 nm - 10 nm (0.01 nm von 350 - 600 nm)
    • Limited: 0.1 nm - 5 nm
  • Wellenlängen-Genauigkeit
    • Standard: ±0.05 nm (633 nm), ±0.2 nm (400 - 1100 nm)
    • High Resolution: ±0.05 nm (633 nm), ±0.2 nm (400 - 1100 nm)
    • Limited: ±0.05 nm (633 nm), ±0.2 nm (400 - 1100 nm)
  • Close-In Dynamk 
    • Standard: 60 dB (λPK ± 0.5 nm) 
    • High Resolution: 60 dB (λPK ± 0.5 nm)
    • Limited: 45 dB (λPK ± 0.5 nm) 
  • Empfindlichkeit
    • Standard: -80 dBm (500 - 1000 nm)
    • High Resolution: -80 dBm (500 - 1000 nm)
    • Limited: -70 dBm (500 - 1000 nm)
  • Messdynamik
    • Standard: 100 dB (-80 - +20 dBm)
    • High Resolution: 100 dB (-80 - +20 dBm)
    • Limited: 90 dB (-70 - +20 dBm)
  • Maximale Eingangsleistung : +20 dBm (550 to 1100 nm) +10 dBm (400 to 550 nm) (total input power)
  • Singlemode-, Multimode- und Large-Core-Fasern
  • Integrierte Quelle für die optische Ausrichtung
  • Wellenlängenkalibrierung mit einer externen Referenzquelle
  • Verschiedene Analysefunktionen einschließlich Farbanalyse für VIS

Optische Spitzenleistung auf Weltniveau

Hohe Auflösung und sehr gute Close-In Dynamik
Der fortschrittliche Monochromator erreicht eine hohe Wellenlängenauflösung und eine sehr gute Close-In Dynamik. Dank der schärferen spektralen Eigenschaften des Monochromators können spektrale Signale in unmittelbarer Nähe klar getrennt und genau gemessen werden.

Hohe Empfindlichkeit
Schwache optische Signale können genau und schnell gemessen werden.

Sieben Empfindlichkeitseinstellungen*
Die Empfindlichkeitseinstellungen können je nach Testanwendungen und Messgeschwindigkeitsanforderungen ausgewählt werden.
*Außer bei der Limited Version

Hochdynamikmodus
Der Dynamikbereich kann verbessert werden, indem der Einfluss von Streulicht, das bei einem starken optischen Signal entsteht, reduziert wird.

Peak-Hold- und externer Triggermodus
Das Spitzen-Spektrum eines gepulsten Lichtsignals ist messbar. Häufig verwendet beim Loop-Testen von Telekommunikationssystemen und auch bei der Leistungsmessung in der Frühphase der Laserchip-Entwicklung, um die Spitzenleistung eines gepulsten Signals zu erfassen. 

Freistrahl-Eingang
Der Freistrahl-Eingang ermöglicht die Verwendung von Multimode- und Singlemode-Fasern an demselben OSA, und die geringe Schwankung der Einfügedämpfung am Eingangsstecker erhöht die Messwiederholbarkeit. Da es keinen physischen Kontakt gibt, entstehen beim Verbinden von Fasern keine Schäden. Es können Singlemode-Fasern, Multimode-Fasern (50/125 μm, 62,5/125 μm) und Großkernfasern bis zu 800 μm verwendet werden.

Free-Space Input | Optical Input Structure | Optical Spectrum Analyzer | Yokogawa Test&Measurement
Optical Input Structure

Schnelle Abtastung
Durch einen fortschrittlichen Monochromator, schnellere elektronische Schaltungen und Techniken zur Rauschunterdrückung erreicht der AQ6373E eine hohe Messgeschwindigkeit, selbst bei der Messung eines steilen Spektrums von DFB-LD-Signalen oder bei der Messung eines schwachen Signals von einer Breitbandlichtquelle.

Großer Messbereich bei höchster Auflösung
Die 200.001 Abtastpunkte erweitern den Messbereich mit einem einzigen Sweep bei gleichzeitig hoher Wellenlängenauflösung. Dies macht Ihre Messungen einfacher und effizienter als bei herkömmlichen Systemen mit einer geringen Anzahl von Abtastpunkten, die mehrere Teilmessungen erfordern, um den gesamten Wellenlängenbereich abzudecken.

Dauerhafte Präzision
Veränderungen der Umgebungsbedingungen, Vibrationen und Stöße, die auf ein optisches Präzisionsgerät wie einen optischen Spektrumanalysator einwirken, beeinträchtigen die optischen Komponenten und können zu einer Verschlechterung der optischen Leistung führen. Mit Standardfunktionen wird die hohe optische Leistung innerhalb weniger Minuten gewährleistet, so dass Sie schnell mit einer Messung beginnen können.

Optische Ausrichtung
Ausrichtung des optischen Pfades im Monochromator mithilfe der integrierten Quelle, um die hohe Leistung aufrechtzuerhalten.

Wellenlängenkalibrierung
Um eine präzise Wellenlängenmessung zu gewährleisten, wird der optische Spektrumanalysator automatisch mit einer externen Lichtquelle kalibriert.

Integrierte Quelle für die optische Ausrichtung
Für die Wellenlängenkalibrierung ist eine externe Lichtquelle erforderlich. Gängige Emissions-/Absorptionslienien und Referenzlaser sind im Gerät hinterlegt. 

Thumbnail-Dateivorschau
Die Miniaturansicht ermöglicht das schnelle Auffinden einer bestimmten Datei unter den vielen Dateien im internen und externen Speicher.

Thumbnail View | AQ6373E OSA | Yokogawa Test&Measurement

USB-Anschlüsse
Insgesamt vier USB-Anschlüsse an der Vorder- und Rückseite ermöglichen den Anschluss von externen Geräten wie Maus, Tastatur, externen Festplatten und Speichersticks.

Großer LCD-Touchscreen
Der hochauflösende, reaktionsschnelle kapazitive 10,4-Zoll-Multitouch-Touchscreen macht die Gerätebedienung noch einfacher und intuitiver. Sie können die Messbedingungen ändern, Analysen durchführen und die optische Spektrumsansicht ändern, als ob Sie ein Tablet-Gerät bedienen würden. In der Spektrumansicht kann die Wellenformansicht durch einfaches Antippen und Ziehen gezoomt oder verschoben werden.

Erweiterte Marker
Nutzen Sie Marker, um die Leistungsdichte oder die integrierte Leistung eines Spektrums zu erfassen.

Spektrumanalyse
Es stehen mehrere Datenanalysefunktionen zur Verfügung, die viele gängige Anwendungen abdecken:

  • OSNR
  • DFB-LD
  • FP-LD
  • LED
  • SMSR
  • Farbanalyse
  • Verschiedene Filter
  • Optische Leistung
  • Spektrale Breite
     

7 eigenständige Traces
Es können bis zu 7 Messkurven angezeigt oder direkt ausgewählt werden. Mit zusätzlichen Funktionen wie Max/Min-Haltefunktion oder Berechnungen zwischen Traces (Subtraktion von Messkurven).

Integrierte Makro-Programmierung
Erstellen Sie automatisierte Testsysteme, um Messungen automatisch durchzuführen und externe Geräte über eine Schnittstelle zu steuern. Für die Fernsteuerung über einen PC und den Transfer von standardmäßigen SCPI-kompatiblen Befehlen (ASCII-Code, entspricht IEEE-488.2) oder proprietären AQ6317-kompatiblen Befehlen (Emulationsmodus) stehen GP-IB- und Ethernet (10/100Base-T)-Anschlüsse zur Verfügung. Es sind auch LabVIEW®-Treiber verfügbar.

APP-Modus für vereinfachte Testabläufe
Der Anwendugsmodus (APP) verwandelt den vielseitigen OSA in ein Prüfgerät für ein zu testendes Prüfobjekt (DUT). Der APP-Modus bietet eine DUT-spezifische Benutzeroberfläche. Diese ermöglicht es dem Anwender leicht von den Konfigurationseinstellungen zu den Prüfergebnissen zu gelangen, ohne sich mit der Vielzahl der OSA-Einstellungen vertraut machen zu müssen. Es sind mehrere Basisanwendungen wie WDM-Test, DFB-LD-Test und FP-LD-Test vorinstalliert. Neue oder zusätzliche Testanwendungen werden auf der Yokogawa-Website zum Download bereitgestellt. 

DUT-Oriented Test Apps (APP) | AQ6373E OSA | Yokogawa Test&Measurement

Der optische Spektrumanalysator AQ6373E eignet sich perfekt für eine Vielzahl von Anwendungen:

  • Aktive optische Geräte (Laserdiode/Faserlaser)
  • Passive optische Geräte (Filter/FBG/Spezialglasfaser)
  • Entwicklung von photonischen Komponenten
  • Medizin/Biologie: Lasertherapie, DNA-Sequenzierung, Mikroskopie
  • Industrie: Laser-Bearbeitung, Lasermarkierung
  • Unterhaltungselektronik: Laserprojektor, optische Datenträger der nächsten Generation, LED-Produkte
  • Messsensorik: LiDAR, Interferometer
  • Telekommunikation: Kommunikation via Kunststofffasern (POF)

Test von LEDs im sichtbaren Bereich
Da auch Fasern mit großem Kerndurchmesser verwendet werden können,  erfasst der AQ6373E effizient sichtbares LED-Licht aus Beleuchtung, Beschilderung, Sensorik und anderen Anwendungen und misst das Spektrum. Die integrierte Farbanalyse-Funktion bewertet automatisch die dominante Wellenlänge und die chromatischen Koordinaten der Lichtquelle.

Example of Color Analysis with AQ6374E OSA | Yokogawa Test&MeasurementExample of Color Analysis with AQ6374E

 

Analyse von sichtbaren Lasern
Sichtbare Laser werden in viele verschiedene Geräte und Systeme integriert, die in einer Vielzahl von Anwendungen zum Einsatz kommen, darunter Industrie (Barcode-Scanner, LiDAR-Oberflächenscanner), Unterhaltungselektronik (Audio-Output von Hi-Fi-Systemen, Laserdrucker, Computer-Mäuse) und Automobil-/Heimnetzwerke (Kabel aus Kunststofffasern).

Example of Visible Laser Measurement with High-Resolution Model | AQ6373E OSA | Yokogawa Test&Measurement
Example of Visible Laser Measurement with High-Resolution Model
VCSEL
VCSEL seen through a Scanning Electron Microscope

Numerical Aperture Conversion Fiber

By connecting a GI 50 or GI 62.5 optical fiber with a relatively large NA to the NA Conversion Fiber, the NA Conversion Fiber reduces the loss that occurs at the input and improves the measurement dynamic range during passive device measurements and the stability of optical level measurements during active device measurements.

751535-E5 Rack mounting kit

19“ Einbausatz (für WT1800E/PD2, AQ637x)

Overview:

To accurately measure pulsed light using an optical spectrum analyzer (OSA), it is necessary to understand the characteristics of the OSA and select the appropriate measurement method and settings.

Overview:

This application note introduces free space light measurement jigs for measuring the emission spectrum of a light source that propagates in free space or the optical transmission spectrum of an optical filter. It describes four types of jigs for light sources and one type for filters.

Applikations Blaetter
Overview:

Key Function

Product Overviews

Suchen Sie mehr Informationen über unsere Mitarbeiter, Technologie oder Lösungen?


Ihr Kontakt zu uns

Precision Making

Oben