OTDR: 光ファイバー端⾯の品質検査

通信装置と光ネットワークの接続には、多くの光コネクタが使われています。光コネクタで接続した光ファイバーの端面が汚れている場合、通信ネットワーク障害の原因となります。実際に、障害の50%以上は、光ファイバー端面の状態に起因していると言われています。OTDRの測定においても、端面の汚れは測定結果に大きな影響を与えます。

1は汚れた端面での測定波形、図2はその端面を清掃した後の測定波形です。端面が汚れていると、反射のあとの裾引きが大きくなります。アッテネーションデッドゾーンが長くなった状態になり、正しいイベント検出ができなくなります。もし、OTDRの測定を行い、このような波形が現れたら、コネクタ端面の汚れや傷が疑われます。WDMPONなどの大きな光出力を使う通信経路では、皮脂やホコリなどの汚れ、キズ、などが原因で、コネクタ端面が焼損する事故もあり得ます。光ファイバーの敷設・保守工事で、コネクタ端面の清掃は必須であり、検査プローブによる確認検査は重要な推奨項目です。近年では、その判断基準が国際標準化されています。

YOKOGAWAOTDRは、ファイバー検査プローブ*を接続することで、ファイバー端面の拡大検査が可能になります。また、ファイバー端面検査機能(/FSTオプション)ではファイバー端面の汚れや傷の合否判定を、IEC61300-3-35準拠もしくは任意の基準で、自動的に行います。判定結果は保存ができ、PDFレポートにも反映されるので、工事終了後のエビデンスとして有効です。

*ファイバー検査プローブの推奨品は、各製品ページをご確認ください。

 

図1: キズや汚れのある端面 による正しくない測定波形

1: キズや汚れのある端面による正しくない測定波形

 

図2: 良品の端面による 正しい測定波形

2: 良品の端面による正しい測定波形

 

ファイバー端面自動合否検査画面

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