光スペクトラムアナライザ AQ6377E

世界最高クラスの測定性能

  • 波長範囲:1900~5500 nm
  • 波長分解能:0.2 nm
  • 波長確度: ±0.5 nm
  • レベル感度:-60 dB
  • 近傍ダイナミックレンジ:50 dB
  • 測定ダイナミックレンジ:73 dB
  • 高性能チョッパーを内蔵
  • アドバンスドパルス光測定モード搭載
  • パージ機構搭載

アプリケーション

  • 半導体レーザー/ファイバレーザー
    • ガスセンシング/環境計測用
    • 医療用
  • 光パッシブデバイス
     フィルター、FBG、特殊ファイバー など

長波長対応 1900 nm ~ 5500 nm

ガスセンシングなどの環境計測や医療などに使われる中赤外域を幅広くカバーします。

 

広い測定ダイナミックレンジ 73 dB

+13 dBmから ―60 dBmまでの広いレベルにわたるスペクトルの一括測定が可能です。

広い測定ダイナミックレンジ 73dB

3.39 µm HeNe Laser の測定例

 

近傍ダイナミックレンジ 50 dB (Peak ± 5 nm)

内蔵されたダブルパスモノクロメーターは、高い近傍ダイナミックレンジ特性と広い測定ダイナミックレンジ特性を持ち、中赤外帯で発振するICLやQCLなどのレーザースペクトル全体の可視化およびレーザーパラメータの特性化が可能です。

近傍ダイナミックレンジ 50 dB (Peak ± 5 nm)

4.3 µm DFB-ICLの測定例

 

高性能チョッパー内蔵

測定感度に応じて自動的に作動する高性能チョッパーを内蔵しています。これにより、測定器内の赤外放射の影響を低減し、中赤外光スペクトル測定時に背景雑音の影響を低減します。
高性能チョッパーが動作するNORM/CHOP、MID/CHOP、HIGH1~3/CHOPの測定感度設定を用いることで、状況に応じて高速測定から低雑音の測定まで対応可能です。

 

アドバンスドパルス光測定(APLM)モード

赤外パルス光スペクトルを測定する際には、分光器内の赤外放射の影響を軽減することが重要です。赤外放射の強度およびスペクトルは温度変化に伴って常に変動するため、測定への影響を軽減するには、赤外放射スペクトルの変化時間よりも十分に短い時間間隔で背景補正を行う必要があります。

APLMモードは、測定スパンを「n」個のセグメントに分割することで、1セグメントあたりの測定時間を短縮し、各セグメントごとに背景補正を行うことで、赤外放射の影響を低減しながら、短パルス光や長い繰り返し周期のパルス光に対応範囲を拡大した、パルス光測定機能です。

ALPMモードの概念図

ALPMモードの概念図

  APLM 従来のパルス光測定機能
(感度:/CHOP 以外)(感度:/CHOP)
光パルス幅の対応範囲 広(制約なし) 広(50 μs ≦) 狭(50 ms ≦)
光パルス繰り返し
周期対応範囲
広(10 Hz ≦) 広(10 kHz ≦) 狭(1MHz ≦)
赤外放射の影響度 小さい 大きい 非常に小さい

パルス光測定機能の比較

アドバンスドパルス光測定モード

アドバンストパルス光測定モードによるICL測定例
(パルス光の繰返し周波数:1 KHz)

 

パージ機構

近・中赤外域波長には、水蒸気や二酸化炭素の影響により強い光吸収が見られる波長領域が存在し、測定の妨げとなる場合があります。AQ6377Eは、背面に設けた給排気口よりモノクロメーター内部に窒素などのパージガスを連続的に供給することで、光吸収が測定へ及ぼす影響を低減できます。

パージ機構

パージ機構の効果(パージガス供給時間:約10分)

 

高次回折光カットフィルター

モノクロメーターでは原理上、入射光の整数倍の高次回折光が発生します。AQ6377Eは内蔵の高次回折光カットフィルターにより、測定波長より短い波長の入射光を抑圧し高次回折光の影響を低減します。

 

フリースペース構造の採用

マルチモードファイバー対応

フリースペース構造
光入力部にフリースペース構造を採用しています。この構造により、シングルモードファイバーだけではなくマルチモードファイバーの測定が可能です。このフリースペース構造は、入力部に光ファイバーを用いた構造に比べ、光コネクタの抜き挿しによる測定値の変化が小さく再現性に優れています。正確で、安定した測定を実現できます。

 

校正用光源を標準で搭載

波長校正用の基準光源を標準で内蔵しています。波長校正・光軸調整のメンテナンスはワンボタンで実行可能です。

波長校正

内蔵の基準光源(ガスセル)を用いて校正します。

光軸調整

移動時などの振動や衝撃によるモノクロメーター内部の光軸ズレを自動調整します。

 

測定プロセスを簡潔化するDUT指向のテストアプリ(APP)

アプリケーション(APP)モードは多用途なAQ6370シリーズを測定対象デバイス(DUT)専用の測定器に変身させます。
APPモードは、測定条件設定から解析結果出力に至るまでお客様をナビゲートするDUT 固有のユーザーインタフェースを提供します。
お客様はAQ6377Eの様々な設定を意識することなく使用することができます。

アプリの基本動作

自動測定システム

AQ6377Eには、WDMテスト、DFB-LDテスト、FP-LDテストなどのいくつかの基本的なアプリがプリインストールされています。
また、AQ6377EのウェブサイトからダウンロードしたアプリをAQ6370シリーズに追加して使用することもできます。

自動測定システム

APPメニュー画面

豊富な解析機能

7つの独立トレース

複数スペクトラムの同時表示、差分演算などのトレース間演算機能、最大・最小値記憶(Max/Min hold)などを装備。

データ解析機能搭載

代表的な解析機能を標準搭載しています。

  • スペクトル幅解析
  • WDM(OSNR)解析
  • WDM-NF(EDFA)解析
  • DFB-LD解析
  • FP-LD解析
  • LED解析
  • SMSR解析
  • 光パワー解析
  • 各種フィルター解析など

プログラム機能を使用して、複数の解析を自動的に実行することができます。

自動測定システムの構築サポート

プログラム機能

  • 外部コントローラを使用せず、小規模な測定システム構築できます。
  • 実際のキー操作やパラメータを設定する感覚で簡単に実行プログラムを作成できます。

高速リモートインタフェース

外部コントローラによる自動テストシステム構築をサポートします。

  • 高速な測定、コマンドレスポンスとデータ転送能力により、自動テストシステムの試験時間短縮に大きく寄与します。
  • SCPI互換コマンド(標準)
  • AQ6317シリーズコマンドにも対応
  • LabVIEW®ドライバの提供

自動測定システム

高性能を維持する機能搭載

周囲環境の変化や移動時受ける振動や衝撃は光学系に少なからず悪影響を与え性能劣化の原因となります。 AQ6377Eには、短時間で光軸ずれや波長ずれを補正して高い光学性能を維持する機能が搭載されています。

内蔵波長基準光源

AQ6377Eは、内蔵の波長基準光源(オプション)あるいは外部光源により、アライメントおよび波長校正が行えます。

波長校正機能

内蔵波長基準光源や外部光源を用いて波長校正を行い波長ずれを自動補正します。

アライメント機能

内蔵波長基準光源あるいは外部光源を使用して、移動時などの振動や衝撃による光軸ずれを自動補正します。

NA変換ファイバー

比較的大きなNAを持つGI50またはGI62.5 光ファイバーに NA変換ファイバーを接続することで、光レベル測定の安定性 を向上させることができます。

ラックマウント用キット 751535-E5

EIA単装用、/PD2オプション付モデル
販売単位:1
価格 ¥15,000 (税抜)

製品紹介

使い方

    概要:

    Learn how to set up an Optical Spectrum Analyzer (OSA) for accurate measurements. This tutorial covers instrument transportation, installation, alignment, adjustment, and wavelength calibration. Discover best practices for preparing your Yokogawa OSA and improving optical testing accuracy.

お気軽にお問い合わせ・ご相談ください。


お問い合わせ

Precision Making

トップ