高分解能リフレクトメータ
光コネクタやモジュール内部の微小な反射光の位置や強度を高精度に検出します。また、光導波路の伝搬損失やシリコンフォトニクスチップ内の光部品の解析が可能です。
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光コネクタやモジュール内部の微小な反射光の位置や強度を高精度に検出します。また、光導波路の伝搬損失やシリコンフォトニクスチップ内の光部品の解析が可能です。