高分解能リフレクトメータ AQ7420
光コネクタや光モジュール内部の反射光強度と反射位置を高精度に検出
AQ7420は、光コネクタや光モジュール内部の反射光強度と反射位置を高精度に検出します。また、光導波路の伝搬損失やシリコンフォトニクスチップ内の光部品の解析が可能です。オプションのセンサーヘッドやマルチスイッチユニットと組み合わせることにより、反射減衰量と挿入損失の一括自動測定や、多心測定が可能です。
- 測定距離：100 mm
- 空間分解能：40 μm
- 反射減衰量不確かさ：±3 dB
- スプリアスノイズ：<-100 dB
実際には反射のない部分に反射があるような波形が取得されるノイズ(スプリアスノイズ)を大幅に改善し、波形解析や検査ミスを低減します。 - 反射/挿入損失一括測定
オプションのセンサーヘッドを組み合わせることにより、反射減衰量と挿入損失を同時に測定可能です。
オプションのマルチスイッチユニットと組み合わせることにより、多心測定が可能です。
光ファイバー、デバイスの内部反射減衰量分布/ 挿入損失の一括自動検査
AQ7420/AQ7421とAQ740023を組み合わせることで、デバイスの反射減衰量分布と挿入損失をひとつのシステムで、ボタンひとつで2波長同時に自動計測可能。
スプリアスフリーかつ高感度だからこそ、反射ピークのないものは間違いなく良品、あるものは不良品だと判定することができます。
また、制御アプリケーションには検査成績レポート作成機能も備えています。
多心光ファイバー、デバイスの内部反射減衰量分布/ 挿入損失の一括自動検査
AQ7420/AQ7421とAQ740027を組み合わせることで多心光ファイバーやスプリッタなどの多心デバイスの反射減衰量分布/挿入損失を一括自動検査可能。繋ぎ替えやスイッチ切替など、システム構築の手間を解消し、ボタンひとつで複数ポートの反射減衰量分布 / 挿入損失を測定できます。
光デバイス内部の部品配置、反射減衰量分布解析
高い距離分解能とスプリアスフリーかつシャープな波形で光デバイス内部の部品配置やそれらの端面で発生する反射減衰量分布の解析に貢献します。
カタログ
- 高分解能リフレクトメータ AQ7420 (771.6 KB)
- AQ7420 シリーズ 高分解能リフレクトメータ (6.3 MB)
取扱説明書
- AQ7420用ユニットをご使用いただく前に (311.6 KB)
- AQ7420 高分解能リフレクトメータ スタートガイド (1.7 MB)
- AQ7420 高分解能リフレクトメータ ユーザーズマニュアル (4.4 MB)
外形図
- AQ740023 センサーヘッド (242.4 KB)
- AQ7420 高分解能リフレクトメータ (435.3 KB)
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