高分解能リフレクトメータ AQ7420
光コネクタや光モジュール内部の反射量と反射位置を高精度に検出
AQ7420は、光コネクタや光モジュール内部の反射量と反射位置を、高精度に検出します。損失測定で見ることができない光コネクタ内部のマイクロクラックを可視化します。また、オプションのセンサーヘッドと組み合わせることにより、挿入損失も同時に測定できます。AQ7420は、光コネクタや光モジュールの検査に最適な測定器です。
- 測定距離：100 mm
- 空間分解能：40 μm
- スプリアスノイズ：－100 dB
従来のリフレクトメータでは、機器の特性により、実際に反射がない部分に波形（スプリアスノイズ）が観測されてしまい、波形解析には、専門的な知識を必要とする場合が多くありました。
AQ7420は、このスプリアスノイズを大きく低減し、波形解析を容易にしています。 - 反射/損失一括測定
従来のリフレクトメータは、縦軸（反射減衰量）の計測精度が悪く、改良を求められていました。
AQ7420は、±3dBの不確かさで計測が可能です。また、オプションのセンサーヘッドと組み合わせることにより、コネクタ接続損失を±0.02dBの不確かさで同時に計測することが可能です。
光コネクタ内のマイクロクラックの可視化
光コネクタの破断・クラック・損失・反射量を同時に測定します。
測定例：コネクタ内のマイクロクラック（高感度レンジにて）
カタログ
- 高分解能リフレクトメータ AQ7420 (772 KB)
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