マルチアプリケーションテストシステム
モジュールの幅広い選択肢を備えたモジュラーテストプラットフォームにより、光学コンポーネントおよびネットワークシステム製造用のテストソリューションの最適な構成が可能になります。
パワーメータ内蔵、非搭載の可変光減衰器、ハイパワー＆マルチチャネルパワーメータ、高安定レーザ光源、各種チャネル数のスイッチなど、幅広いラインアップのモジュールを提供しています。
半導体デバイスや光ファイバーなどの光部品の測定に最適なテストシステム
高速な測定に対応した光パワーメータやソースメジャーユニットをラインアップしており、時間短縮と省スペース化に貢献します。
1チャネルタイプ（アナログ出力搭載）
1台の光パワーメータととアナログ出力を搭載しています。
波長レンジ： 800 ～1700 nm
パワーレンジ：-90～+15 dBm
AQ2300シリーズのモジュール式の電圧電流発生＆測定器です。
ソース：±6 V/±600 mA
シンク：±6 V/±200 mA
±2 V/±600 mA
2チャネル（1スロット幅）
光デバイスや光伝送装置の測定に最適なテストシステム
Grid波長可変光源、高速測定に対応した光センサー、高分解能で高速な光減衰器、省スペース光スイッチなど、各種プラグイン測定モジュールをラインアップしております。
空間光測定のための大口径センサヘッド
AQ2200-232はφ5mm、AQ2200-242は□5.8mmの受光素子を搭載し、手元での空間光を測定できます。
低挿入損失を実現、小型・軽量光可変減衰器
1200～1700nmの波長域で、高精度に光出力を調整可能な光可変減衰器です。0～60dBまでの広い減衰量レンジにおいて、0.001dBステップで変えることができます。
また、光システム試験において光可変減衰器に求められる低挿入損失、低偏波依存性、高反射減衰量を実現しました。
パワーモニター用の光パワーメーターを内蔵、小型・軽量光可変減衰器
AQ2200-332 ATTNモジュールは、小型でありながら光可変減衰器と光可変減衰器の出力パワーをモニターするための光パワーメーターを搭載しています。光モニター機能を備えることで、本モジュールからの光出力を任意の絶対値で設定することができます。
優れた切替再現性を実現
小型・省スペース1×4、1×8光スイッチ
AQ2200-411 OSWモジュールは、低挿入損失と優れた切替再現性を実現した省スペースの光スイッチです。用途に合わせて1×4、または1×8のポート構成を選択可能です。
優れた切替再現性を実現
小型・省スペース1×16光スイッチ（2スロット幅）
AQ2200-412 OSWモジュールは、低挿入損失と優れた切替再現性を実現した高精度でコンパクトな光スイッチです。
チャネル数が16に拡大され、自動試験の効率が向上します。
優れた切替再現性を実現
小型・省スペース1×2、2×2の光スイッチを2台搭載
AQ2200-421 OSWモジュールは、低挿入損失と優れた切替再現性を実現した光スイッチを1スロットサイズのモジュールに2台搭載した光スイッチです。用途に合わせて1×2、または2×2のポート構成を選択可能です。
