半導体デバイスの静特性測定（2端子）
概要
ダイオード、バリスタ等の2端子半導体デバイスのV-I特性を測定します。ソースメジャーユニットGS610に搭載されたカーブトレーサ機能により、汎用ワークシートを利用した特性測定、グラフ描画が可能です。面倒なプログラミングや専用ソフトウェアは一切不要です。
特長
- 汎用ワークシートの利用が可能なカーブトレーサ機能
- 従来のカーブトレーサに比べ非常に安価（約1/4の価格）
- 最大電圧110V、最大電流3.2Aでのカーブトレースが可能
- 電圧基本確度±0.02%、電流基本確度±0.03%
- コントロールソフトウェアは不要
関連業種
関連製品とソリューション
Well-being
計測技術で人々の生活を豊かに
テクノロジがこれほど多くの人々の生活に有益な影響を与えたことはかつてありません。先端のテクノロジを活用して人々の安全と健康を維持する新たな産業が拡大する中、YOKOGAWAは自社の計測技術を展開し、新たなアプリケーションのニーズに応えていきます。
ソースメジャーユニット GS610
GS610は電圧・電流発生および測定機能を搭載した高精度・高機能のプログラマブル電圧電流源です。最大出力電圧は110V,最大出力電流は3.2Aで、ソース動作(電流の供給)およびシンク動作(電流の吸い込み)が可能なため、広範囲にわたる基本電気特性の評価を行なうことができます。
校正器 / 標準発生器
開発現場や工場で使用される電力計、温度計、マルチメーターなどの測定器には、正確さを保つために定期的な校正が必要です。ISO9001を中心とした国際標準規格に対応した品質マネジメントシステムの導入が進み、測定器を校正する重要性が一層高まっています。長年蓄えた高い計測技術を使って開発した校正器、標準発生器により、こうした要求にお応えします。
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